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四探针接触式原理测量导电膜层的面电阻。 四探针接触式原理测量导电膜层的面电阻，又称方块电阻。
测量对象： TCO光伏玻璃、ITO玻璃、触摸屏玻璃
Low-E导电镀膜玻璃
透明导电薄膜材料
人工合成金属片及导电纸
其他导电材料
特性：
高精度接触测量
专用于大面积平板镀膜测量
本仪器采用四探针接触式原理，用于测量导电膜层的面电阻(方块电阻)，探针直径大，针头光滑，能伸缩，不易划伤膜层。仪器有多个量程范围可自动选择，
以Ohm/sq或Siemens/sq显示数据，校准数据和测量结果自动存储。
规格参数
序号
项目
参数
1
测量方法
四探针式测量
2
测量范围
0～200k Ohm，可以定制其他测量范围
3
操作温度
0～50℃
4
电池持续时间
4～6小时
5
外形尺寸
300mm×290mm×120mm
6
重量
约1.5k
备注：厂家有权修改技术参数，请以实际产品和所附说明书为准。
售后服务和技术支持
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• 所有仪器可以在客户现场进行售后服务Contact:13649881864刘先生，也可以送至我们在全世界的售后服务中心
