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系统构成分为二大功能部分：一为准稳态光电导少子寿命测试部分；二为
Suns-Voc功能测试部分；。。
对两部分各自的技术指标及构成要求如下：
1.准稳态光电导少子寿命测试部分：
1）测量原理 QSSPC（准稳态光电导）
2）少子寿命测量范围100 ns-10 ms
3）测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析
4）电阻率测量范围 0.2–600 (undoped) Ohms/sq.
5）注入范围：1013-1016cm-3
6）感测器范围
直径40-mm
7）测量样品规格
标准直径: 40–210 mm （或更小尺寸）
8）测试样片厚度范围 10–2000μm
9）外界环境温度 20°C–25°C
10）通用电源电压 100–240 VAC，60 Hz
11）该部分系统构成：
1．少子寿命测试主机，信号接线盒及信号线；
2．含带通滤光片的程控闪光灯；
3．安装配置有如下软件的计算机系统:Windows OS；MS office；
4.数据采集及分析软件包；
5．数据采集卡，双通道，共模抑制；以及其它完成该测试功能所必须的构成
硬件及软件。
2.Suns-Voc功能部分
1）该部分应可进行如下参数的测试分析：
太阳电池片开路状态下的隐I-V曲线，
通过该测试可得到材料所能获得的最高效率（implied IV curve at open circuit:materials limit
to effeciency）；伪效率（pseudo-efficiency）；伪填充因子（pseudo fill factor）；
二极管分析（two-diode analysis）；分流值（shunt value）。
2）标准照明的范围：0.01-6suns （AM1.5）。
3）Suns-Voc系统特征为：电压探针高精确度；兼容磁性探针；配备全套浓度补正滤色片的
疝气灯；可准确调制亮度；使用标准的I-V曲线图及Suns-Voc曲线图；
不受串联电阻的影响，测定晶片特征。
