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通过模拟太阳光辐射的方法,稳定薄膜组件的电性能。
二、设备主要测试项目
序号
测试项目
满足标准
备注
1
LID光衰老化试验
IEC 61215-2:2021、IEC 63202-1:2019和IEC 60904:2014规定
2
序 号
指 标
指标参数
1
有效辐照面积
≥宽2600mm×长1500mm(腔体尺寸可定制)
2
箱内容积
组件,放置1块以上(单片:长2600mm*1400mm*39mm)
3
辐照度
200-1200w/㎡ 可调,误差±50
4
太阳光模拟器
符合IEC IEC63202 AAA级太阳光模拟器
5
辐照强度精度或分辨率
0.1w/㎡
6
光谱匹配度
A级 ≤2%
7
辐照不均匀度
A级 ≤2%
8
辐照不稳定度
A级 ≤2%
9
温度范围
20℃-70±5℃
10
温度偏差
±3℃精度为±1℃
11
试验体表面温度范围要求
40'C-50℃范围内,其温度变化小于士2℃
12
设备噪音
≤70dB
13
显示精度
温度:±1℃,时间:读取值的±300ppm
14
恒定温度控制系统
选配
15
I-V控制系统
选配
16
I-V数据处理软件
选配
17
标准电池片
选配
18
PC电脑装Win10系统
选配